眾所周知，光譜分析儀是一種常用的分析儀器，是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來測定物質(zhì)的化學(xué)組分的，應(yīng)用領(lǐng)域較為廣泛。但是用戶對于光譜分析儀器的一些性能特征是否有所了解？想要更好的使用該產(chǎn)品對其了解是必不可少的，下面儀德公司將具體介紹光譜分析儀。光譜分析儀器光譜分析儀的性能特點：1、獨立出射狹縫金屬整縫的特點是儀器調(diào)試方便、快捷，便于出射狹縫增加通道節(jié)約成本。2.自動描跡自動描跡可大大縮短校準(zhǔn)儀器所用的時間，使儀器校準(zhǔn)變得簡單、方便，非專業(yè)人員既可進行描跡操作。儀器設(shè)有內(nèi)部恒溫系統(tǒng)。大大減小了環(huán)境溫度變化對光學(xué)系統(tǒng)造成的漂移。

在當(dāng)今工業(yè)快速發(fā)展的社會，光譜分析儀器和化學(xué)分析儀器在冶金、化學(xué)、新材料開發(fā)、航空等眾多領(lǐng)域都有著廣泛應(yīng)用。可以說兩者各自存在優(yōu)點和不足。下面就來對其二者優(yōu)缺點進行分析：光譜分析儀器光譜分析儀優(yōu)點：1、采樣方式靈活，對于稀有、貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損失；2、測試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出；3、對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測；4、分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達到快速檢測；5、分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。

德國斯派克直讀光譜儀 ICAL智能校準(zhǔn)與傳統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化方法的區(qū)別傳統(tǒng)方法:n  每個元素通過高標(biāo)和低標(biāo)進行校準(zhǔn)n  標(biāo)準(zhǔn)化按要求一步一步進行，一般每個基體需激發(fā)4-6塊樣品  ICAL:n  僅需一塊樣品完成所有基體及元素的標(biāo)準(zhǔn)化n  à因此所有標(biāo)準(zhǔn)化工作一步完成效率對比（以鐵、鋁、銅三個基體為例：）傳統(tǒng)方法：對儀器進行完全標(biāo)準(zhǔn)化，三套標(biāo)準(zhǔn)化樣品逐一激發(fā)所需時間約45分鐘；ICAL標(biāo)準(zhǔn)化：只需一塊標(biāo)準(zhǔn)化樣品，5分鐘時間完成。***不單單只是單

1、光譜分類及原子光譜分析方法有哪些？　　光譜按強度隨波長或頻率的分布輪廓，可分為線狀光譜、帶狀光譜和連續(xù)光譜；按能量傳遞方式可分為吸收光譜、發(fā)射光譜、熒光光譜和拉曼光譜；按電磁輻射的本質(zhì)，光譜可分為：原子光譜、分子光譜、X射線能譜、γ射線能譜等。電磁波譜根據(jù)能量的高低排列由短波段的γ射線、X射線到紫外光、可見光、紅外光再到長波段的微波和射頻波，如表1所示的光譜類型。表1 電磁波譜與相關(guān)的光譜類型波長范圍電磁波區(qū)域光譜分析類型＜0.005nmγ射線區(qū)（穆斯堡爾譜）0.005~10nmX射線區(qū)（X射線熒光光譜）10~

直讀光譜儀和X射線熒光均屬于發(fā)射光譜直讀光譜儀主要分為立式、臺式、移動三種,分析穩(wěn)定性和精度依次下降.X射線熒光主要分為波長、能量與便攜式三種,分析精度也是按照剛才的順序依次下降,功能依次是元素含量分析、元素半定量定性分析、定性分析元素分析類儀器：原子吸收、ICP（等離子體發(fā)射光譜儀）、ICP-MS（等離子體質(zhì)譜儀）、GD（輝光放電光譜儀）、GD-MS（輝光放電質(zhì)譜儀）、直流電弧光譜儀.以上都主要用戶樣品中元素分量的分析,當(dāng)然這些只是光譜系列的,色譜系類的儀器也可以進行部分元素含量的分析除了以上儀器,還有一些主用的

直讀光譜儀操作手冊  第一章  光電光譜分析的基本原理  一、 光譜分析簡介  1、 電磁輻射的基本特征  光譜是按照波長（或波數(shù)、頻率）順序排列的電磁輻射。天空的彩虹、自然界的極光等均是人們早期觀察到的光譜，但它們僅是電磁輻射的很小的一部分可見光譜。還有大量的不能被人們直接看到的和感覺到的光譜，如γ射線、x射線、紫外線、紅外線、微波及無線電波等，這些也都是電磁輻射，它們只是頻率或波長不同而已。  電磁輻射實際是一種以巨大速度通過空間而

直讀光譜儀的分析原理：樣品在激發(fā)光源下被激發(fā), 其原子和離子躍遷發(fā)射出光, 進入光學(xué)系統(tǒng)被色散成元素的光譜線. 對選定的內(nèi)標(biāo)線和分析線的強度進行測量, 根據(jù)元素譜線強度與被測元素的濃度的相互 關(guān)系,采用持久曲線法和控制試樣法得到試樣中被測元素的含量.

直讀光譜儀的注意事項：1 非崗位人員不得隨便進入機房,機房內(nèi)禁止吸煙,吃食物.2 卸下火花臺板時要輕拿輕放,防止內(nèi)表面劃傷.取出火花室內(nèi)圓石英墊片和玻璃套管 時務(wù)必謹(jǐn)慎小心,防止操作不當(dāng)致其破碎.3 壓樣品夾子要垂直,不得在未夾好樣品時按激發(fā)鍵,不得在激發(fā)時觸摸或抬起樣品夾. ...

光譜儀器的定性分析是指：由于各種元素的原子結(jié)構(gòu)不同，在光源的作用下都可以產(chǎn)生自己特征的光譜。如果一個樣品經(jīng)過激發(fā)攝譜在感光板上有幾種元素的譜線出現(xiàn)，就證明該樣品中有這幾種元素。這樣的分析方法就叫做光譜定性分析方法。光譜儀器用于定性分析方法有以下幾種：1.比較光譜分析法：這種方法應(yīng)用比較廣泛，它包括標(biāo)準(zhǔn)試樣比較法和鐵譜比較法。標(biāo)準(zhǔn)樣品比較法一般適用于單項定性分析及有限分析。鐵譜比較法它不但可以做單項測定還便于做全分析。2.譜線波長測量法：光譜分析儀器利用譜線波長測量法進行定性分析是先測出某一譜線的波長，再查表確定存在

光電直讀光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高，但測定試樣中元素含量時， 所得結(jié)果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類、來源及如何避免誤差進行分析。    根據(jù)誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因， 誤差可分為下面幾種：　　1.系統(tǒng)誤差的來源　　(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差?！　?2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差?！　?3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬

大家都希望自己的直讀光譜儀能很好的正常運行，但是由于存在多方面因素的影響，使光譜儀總會多多少少出現(xiàn)一些異?，F(xiàn)象。一旦儀器運行出現(xiàn)不穩(wěn)定狀態(tài)，就會直接影響到測試分析數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠，影響儀器工作狀態(tài)的因數(shù)很多，根據(jù)多年的實際經(jīng)驗，總結(jié)一個十字要領(lǐng)，“儀，人，水，電，氣，溫，濕，環(huán)，保，修”。

該要求將于2013年7月21日生效，協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)為EN71-3，目前還在過渡期。 新EN71-3檢測元素：鋁、銻、砷、鋇、硼、鎘、鉻(III)、鉻(VI)、鈷、銅、鉛、錳、汞、鎳、硒、鍶、錫、有機錫、鋅 ；XRF應(yīng)用解決方案！

土壤既是自然環(huán)境的構(gòu)成要素，又是農(nóng)業(yè)生產(chǎn)重要的自然資源。隨著城市化進程及工業(yè)的迅速發(fā)展，重金屬、化學(xué)農(nóng)藥等污染物通過污水灌溉、大氣煙塵沉降、垃圾掩埋處理等各種途徑進入土壤。土壤中的重金屬因不被微生物降解，不易移動，故會不斷積累，造成嚴(yán)重污染，并可通過植物吸收進入食物鏈，造成農(nóng)產(chǎn)品安全質(zhì)量隱患，危害人類健康。因此，對土壤中重金屬進行監(jiān)測，已成為環(huán)境保護的重要工作。要如何才能快速確定土壤、沉積物、固體廢棄物等中是否含有重金屬，從而避免盲目取樣帶來人力物力的浪費呢？X射線熒光光譜法具有無需樣品制備，同時多元素測定、分析速度快、重現(xiàn)性好和無損檢測的特點，已成為土壤現(xiàn)場快速監(jiān)測、快速篩分的重要也是有效的工具。

目     錄一、   WEEE及RoHS指令測試手段二、   產(chǎn)品特點和性能指標(biāo)三、   配套環(huán)境和人員要求四、   標(biāo)準(zhǔn)配置附件五、   硬件耗材費用六、   儀器主要損耗七、   測試效率八、   售后服務(wù)九、   技術(shù)資料、培訓(xùn)、安裝、調(diào)試及驗收十、   儀器基本知識十一

德國斯派克分析儀器公司推出的SPECTRO MIDEX微區(qū)分析X射線熒光光譜儀適合于電子電氣產(chǎn)品微小樣品以及微小區(qū)域以及整機的元素分析，分析樣品的形態(tài)可以為固體或者液體，分析過程對樣品沒有損害。樣品室有易于調(diào)節(jié)的樣品臺，通過20倍率變焦攝像系統(tǒng)和激光指位系統(tǒng)，可準(zhǔn)確的確定測量位置。X射線照射面積小可選0.2mm小焦點聚焦面積，能量無損失，定位更加精準(zhǔn)，可以測試到細(xì)小的焊端，引腳和BGA焊球，測量點直徑小為1.0mm。同一個樣品在同一臺機器測試多次的結(jié)果偏差小于0.03%,在不同的機臺測試同一個樣品的結(jié)果偏差小于

等離子體光譜儀是大型精密儀器，除了每周不開氬氣，開主機預(yù)熱一次，注意控制環(huán)境溫濕度等條件外，還有哪些你不知道的注意事項？把矩管、霧化器、霧化室清洗過，泵管更換，循環(huán)冷卻水更換，提前預(yù)熱，點火前，盡量讓光路和氣路充滿載氣，然后呢？。。。。。。請看下文！  首先你需要知道：ICP-OES的應(yīng)用范圍日常分析前后的注意事項1.檢查氬氣是否充裕，輸出壓力為0555Mpa~0.8Mpa；2.檢查shear Gas 輸出壓力是否正常，0555Mpa~0.8Mpa；3.檢查蠕動軟管是否正常，如有變形及

進口斯派克手持式光譜儀操作說明，簡單介紹了手持式光譜儀的開機操作、測試、校準(zhǔn)、打印數(shù)據(jù)等知識。

手持式光譜儀大家都認(rèn)識，但有些細(xì)節(jié)的可能還不是那么了解，今天分析下德國斯派克手持式光譜儀特點與參數(shù)。

德國斯派克分析儀器公司生產(chǎn)的XEPOS及X－LAB 2000型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，測試符合WEEE及SONY STM-0083標(biāo)準(zhǔn)。詳細(xì)信息請于廣州儀德（http://www.xzm2008.com）聯(lián)系。

X射線熒光光譜法測量千足銀飾品含量的不確定度評定1  方法概述按照GB/T 18043-2013標(biāo)準(zhǔn)，利用能量色散X射線熒光光譜法測量飾品的含銀量。該法屬于直接測量，測量結(jié)果即為銀的百分含量。本文分析了飾品含銀量測量的不確定度來源，利用測量所得的實驗結(jié)果及其他資料，評定了測量結(jié)果的不確定度。（1）測量依據(jù)：GB/T 18043-2013《首飾 貴金屬含量的測定X射線熒光光譜法》（2）使用儀器：小焦點能量色散型X射線熒光分析儀（3）環(huán)境條件：溫度26℃；濕度72%RH2  不確定度來源（1）校正曲