日本理學上照式X射線熒光光譜儀對風化堆積巖的分析方法

礦石開采及礦石判定需要的精準的進行分析測定廣州儀德代理的日本理學X射線熒光光譜儀可以輕松解決，下面通過實際案例分享測定方法，為礦產(chǎn)行業(yè)提供寶貴經(jīng)驗。為對局部變色堆積巖的變色原因進行無損檢查，使用X射線熒光分析儀作CCD定點分析及元素分布分析。CCD定點分析和元素分布分析是根據(jù)儀器內(nèi)置的CCD相機和樣品臺驅(qū)動裝置的組合，指定任意位置進行測試的方法。就此分析而言，這是一種非常有效的測試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進行元素分布分析。即使是小直徑分析，也可得到很高的精度，在短時間內(nèi)得到滿意的結(jié)果。實驗操作

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日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學波譜，波譜不限于材料的形狀，應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石領(lǐng)域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。使用儀器分析室內(nèi)置的相機將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進行了分析。紅框內(nèi)擴大了的范圍由右圖表示?？梢愿艿刂付y量位置。面掃3描分析結(jié)果微區(qū)測繪測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。各測量點的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

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精密儀器之X射線熒光光譜儀

簡介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學，法醫(yī)學，考古學和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。使用型態(tài)：XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，

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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

廣州儀德專業(yè)代理日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀，本次文章主要分享理學中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產(chǎn)生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護信息:關(guān)閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護信息,關(guān)閉ZSX應(yīng)用軟件,關(guān)掉主機,過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應(yīng)用軟件正常運行,X熒光儀主機正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時,

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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學波長色散X射線熒光光譜儀?，在理學光譜上得到廣泛用戶的好評與支持，日本理學波長色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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理學ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

日本理學ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀，該儀器為上照式端窗型單道掃描儀，配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體，性能優(yōu)越，高精密度以及低檢出限，可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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什么是波長色散x射線熒光光譜儀？

波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分

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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定操作實例

多數(shù)操作人員對日本理學波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定方法操作實例，方便廣大用戶進行學習，本方法來源于網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)供參考用，不做商業(yè)用。檢定項目操作實例以日本理學X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術(shù)指標，進行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續(xù)重復(fù)測量的相對標準偏差RSD表示。每次測量都必須改變機械設(shè)置條件，包括晶體、計數(shù)器、準直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺位置等。上式中：s——n次測量的標

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波長色散X射線熒光光譜儀環(huán)境條件與技術(shù)指標（分享版）

根據(jù)JJG810-1993中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程《波長色散X射線熒光光譜儀》，對儀器進行檢定/校準，在確保各項指標合格的前提下，儀器方可投入使用。本文對檢定中涉及的指標進行具體實驗分析統(tǒng)計，給出詳細的統(tǒng)計結(jié)果。并對檢定的項目進行了探討，為下一步檢定規(guī)程的修訂提供了建議。波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射線熒光光譜儀已經(jīng)進行了飛速的發(fā)展，如今的波長色散X射線熒光光譜儀器已經(jīng)發(fā)展到了波譜、能譜和微區(qū)掃描三者相結(jié)合的大型儀器，具備了更優(yōu)異的檢測性能和新增了掃描性能，并且隨著國

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一分鐘掌握波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的原理結(jié)構(gòu)

多數(shù)人到現(xiàn)在還不清楚如何的區(qū)分波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區(qū)別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡單的介紹兩者之間的原理結(jié)構(gòu)，一分鐘快速掌握其中的奧秘。項目波長色散型能量色散型原理X熒光經(jīng)晶體分光，在不同行射角測量不同元素的特征線X熒光直接進入檢測器，經(jīng)電子學系統(tǒng)處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜結(jié)構(gòu)為滿足全波段需要，配置多塊晶體，根據(jù)單道掃描和多道同時測定的需要，設(shè)置掃描機構(gòu)和若干固定通道無掃描機構(gòu)，只用一個檢測器和多道脈沖分析器，結(jié)構(gòu)簡單得多，無轉(zhuǎn)動件，可靠性高X-光管高功

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波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品的區(qū)別

日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品各有獨自的優(yōu)勢，針對不同類的樣品檢測各有著長處之處，波長色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數(shù)用去牌號的快速檢測和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區(qū)別有哪些。

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ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀探測器故障問題

ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀在使用過程上假如出現(xiàn)了PC探測器的PHA調(diào)節(jié)不能正常進行怎么處理，廣州市儀德科學儀器有限公司工程師教你一招，自己也可以進行故障排除。故障現(xiàn)象：進行PHA日常調(diào)節(jié)時，PC探測器微分曲線譜峰太低，嚴重變形，無法計算分辨率、“錯誤內(nèi)容”提示“因為脈高微分曲線的譜峰太低，所以不能進行PHA調(diào)節(jié)”，“維護信息”顯示：“可能使用了錯誤的PHA調(diào)節(jié)樣品，或者PHA調(diào)節(jié)的條件設(shè)置錯誤”。

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ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀中X光管故障解決問題

ZSX Primus Ⅱ 波長色散型X射線熒光光譜儀在檢測過程中由于不正確的使用或者沒有定期的進行維護保養(yǎng)，容易造成機器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波長色散型X射線熒光光譜儀在分析中出現(xiàn)X光管故障的現(xiàn)象、產(chǎn)生的原因與最終解決的二種方法。第一故障現(xiàn)象：正常使用過程中，X光管忽然關(guān)閉。“錯誤內(nèi)容”提示“X射線發(fā)生器發(fā)生異常”，“維護信息”顯示：“探測到X射線發(fā)生器有異常情況”。原因分析：X射線發(fā)生器本

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ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀解決初始化無法進行兩種方法

進口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學推出的波長熒光光譜儀，性能先進，操作方便，已 廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、鋼鐵、冶煉、醫(yī)藥等多領(lǐng)域。但在實際使用過程中有時會出現(xiàn)這樣那樣的故障，影響正 常測試工作的及時性和測試結(jié)果的準確性，文章針對ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進行的兩個常見的故障現(xiàn)象進行介紹，介紹故障出現(xiàn)的問題、原因分析及解決方法，希望對大家有所幫助。初始化無法進行故障一故障現(xiàn)象：安裝新光管后主機與計算機不能連接，也沒有錯誤信息提示。原因分析：錯誤現(xiàn)象表明計算機系統(tǒng)探

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Supermini200 波長色散型臺式X射線熒光光譜儀檢測范圍

理學多年的積累研制的Supermini200 小型波長色散型儀器， 由高性能的硬件和最新軟件的完美結(jié)合，使得臺式機具有高精度、高穩(wěn)定的機能。Supermini200 波長色散型臺式X射線熒光光譜儀檢測性能非常的高，同一個畫面上的分析、測量、結(jié)果確認操作簡單。Supermini200還配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能夠進行高靈敏度的分析。Supermini200波長色散型X射線熒光光譜儀能快速解決各行業(yè)元素分析檢測問題，大大提高工作效率。下面簡單介紹其中部分分析應(yīng)用：部分應(yīng)用1、含有稀土類重元素等氧化物的定性分

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波長色散型XRF-ZSX Primus系列X射線熒光光譜儀應(yīng)用

隨著用戶的需要也變得先進和多樣化，理學集團長年以來的技術(shù)研發(fā)、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿足用戶不斷改變的需求，理學集團研發(fā)了先進的XRF-ZSX Primus系列在各大行業(yè)中被廣泛的應(yīng)用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長色散型X射線熒光光譜儀在技術(shù)上更加的先進，下面為大家簡單介紹波長色散型X射線熒光光譜儀在部分領(lǐng)域中的應(yīng)用。部分應(yīng)用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C

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波長色散X射線熒光光譜儀的新進展

X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現(xiàn)場分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）,從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色散型兩種，適用于測定鈹 (Be)以上的化學元素的含量。它的優(yōu)點是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以

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波長色散X射線熒光光譜儀

來源：分析測試百科網(wǎng)我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀80年代起，一些機械部件為電子線路所取代，電子線路又進而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測角儀和激光定位光學傳感器驅(qū)動測角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機械運動的測角儀，2θ掃描精度也由齒輪機械運動的±0.001&d

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X熒光光譜儀測試的方法和要點

X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀的效能發(fā)揮到極致，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應(yīng)用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。一、X熒光光譜儀測試方法：　　1、X熒光光譜儀樣品制備進行x射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數(shù)率也不同；

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測礦石用的是哪種光譜

測礦石一般可用X射線熒光光譜儀! 現(xiàn)場測的可以有手持式光譜儀。實驗室可用臺式熒光光譜儀。

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