波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析

廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領(lǐng)域的金屬元素分析有著豐富的經(jīng)驗(yàn)及完整的配套方案，下面分享通過日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長石，云母，角閃石等構(gòu)成的礦物質(zhì)。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動(dòng)裝置組合，對花崗巖進(jìn)行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內(nèi)置的CCD相機(jī)對直接觀察樣品表面，指定任意位置進(jìn)行的元素分析。實(shí)驗(yàn)操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀（日本理學(xué)）二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割，打磨

http://www.xzm2008.com/Article/bcssxsxydg_1.html

日本理學(xué)上照式X射線熒光光譜儀對風(fēng)化堆積巖的分析方法

礦石開采及礦石判定需要的精準(zhǔn)的進(jìn)行分析測定廣州儀德代理的日本理學(xué)X射線熒光光譜儀可以輕松解決，下面通過實(shí)際案例分享測定方法，為礦產(chǎn)行業(yè)提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。為對局部變色堆積巖的變色原因進(jìn)行無損檢查，使用X射線熒光分析儀作CCD定點(diǎn)分析及元素分布分析。CCD定點(diǎn)分析和元素分布分析是根據(jù)儀器內(nèi)置的CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動(dòng)裝置的組合，指定任意位置進(jìn)行測試的方法。就此分析而言，這是一種非常有效的測試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進(jìn)行元素分布分析。即使是小直徑分析，也可得到很高的精度，在短時(shí)間內(nèi)得到滿意的結(jié)果。實(shí)驗(yàn)操作

http://www.xzm2008.com/Article/rblxszsxsx_1.html

走訪中山在電器和模具鋼手持式光譜儀老用戶

現(xiàn)在各行各業(yè)都已復(fù)工，我們也開始去回訪老用戶對我們光譜儀的使用情況去做回訪，讓用戶更好的使用和日常維護(hù)好光譜儀，今天我們來到中山對已使用我們手持式光譜儀的用戶進(jìn)行回訪?？纯此麄冊谑褂弥杏龅降睦щy和需要我們幫他們解決存在使用的情況進(jìn)行回訪工作。上午走訪：這臺小臺式熒光光譜儀是一家做電器的企業(yè)在使用，他們主要是對來料做RoHS檢測這方式。他們使用這臺熒光光譜儀有4年多了，現(xiàn)在光譜儀還是非常的穩(wěn)定，做好日常儀器保養(yǎng)工作就好。下午走訪：這臺手持式光譜儀是一家做汽車配件，模具鋼來料檢測，用了5年時(shí)間，儀器都沒有問題。保養(yǎng)的也

http://www.xzm2008.com/Article/zfzszdqhmj_1.html

日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜，波譜不限于材料的形狀，應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析，為礦石領(lǐng)域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進(jìn)行了分析。紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示?？梢愿艿刂付y量位置。面掃3描分析結(jié)果微區(qū)測繪測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。各測量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

http://www.xzm2008.com/Article/rblxbcxsxy_1.html

精密儀器之X射線熒光光譜儀

簡介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。使用型態(tài)：XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候，

http://www.xzm2008.com/Article/jmyqzxsxyg_1.html

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀，本次文章主要分享理學(xué)中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時(shí)出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯(cuò)誤級別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯(cuò)誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯(cuò)錯(cuò)誤代碼:11錯(cuò)誤及產(chǎn)生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護(hù)信息:關(guān)閉ZSX軟件,并重新啟動(dòng)初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護(hù)信息,關(guān)閉ZSX應(yīng)用軟件,關(guān)掉主機(jī),過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應(yīng)用軟件正常運(yùn)行,X熒光儀主機(jī)正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時(shí),

http://www.xzm2008.com/Article/rblxbcssxsff_1.html

ZSX PrimusⅡX射線發(fā)生器故障的排除

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)ZSXPrimusⅡ型波長色散X熒光光譜儀，今天分享ZSX PrimusⅡ波長色散X熒光光譜儀在使用過程中頻繁出現(xiàn)X射線發(fā)生器發(fā)生異常狀態(tài)故障現(xiàn)象及故障處理，其錯(cuò)誤級別:失敗，出錯(cuò)部位:X射線發(fā)生器，錯(cuò)誤內(nèi)容:X射線發(fā)生器異常狀態(tài)，錯(cuò)誤代碼:23?（故障記錄如下圖片所示）故障處理1、首先排除光管散熱差造成的故障?清潔二次水(內(nèi)循環(huán)水)過濾器濾芯，恢復(fù)后，流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min)，但是故障依然?2、補(bǔ)足二次水(內(nèi)循環(huán)水)水箱，并調(diào)節(jié)其水壓由0.32MPa-0.

http://www.xzm2008.com/Article/zsxprimusx_1.html

ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)介紹

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀?，在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評與支持，日本理學(xué)波長色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護(hù)。同時(shí)檢測材料狀態(tài)也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

http://www.xzm2008.com/Article/zsxprimusi_2_1.html

理學(xué)ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

日本理學(xué)ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀，該儀器為上照式端窗型單道掃描儀，配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體，性能優(yōu)越，高精密度以及低檢出限，可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

http://www.xzm2008.com/Article/lxzsxprimu_1.html

什么是波長色散x射線熒光光譜儀？

波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素，分析精度高，樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分

http://www.xzm2008.com/Article/smsbcssxsx1_1.html

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對項(xiàng)目檢定操作實(shí)例

多數(shù)操作人員對日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對項(xiàng)目檢定方法操作實(shí)例，方便廣大用戶進(jìn)行學(xué)習(xí)，本方法來源于網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)供參考用，不做商業(yè)用。檢定項(xiàng)目操作實(shí)例以日本理學(xué)X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術(shù)指標(biāo)，進(jìn)行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續(xù)重復(fù)測量的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示。每次測量都必須改變機(jī)械設(shè)置條件，包括晶體、計(jì)數(shù)器、準(zhǔn)直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺位置等。上式中：s——n次測量的標(biāo)

http://www.xzm2008.com/Article/rblxbcssxs_1.html

波長色散X射線熒光光譜儀環(huán)境條件與技術(shù)指標(biāo)（分享版）

根據(jù)JJG810-1993中華人民共和國國家計(jì)量檢定規(guī)程《波長色散X射線熒光光譜儀》，對儀器進(jìn)行檢定/校準(zhǔn)，在確保各項(xiàng)指標(biāo)合格的前提下，儀器方可投入使用。本文對檢定中涉及的指標(biāo)進(jìn)行具體實(shí)驗(yàn)分析統(tǒng)計(jì)，給出詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。并對檢定的項(xiàng)目進(jìn)行了探討，為下一步檢定規(guī)程的修訂提供了建議。波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射線熒光光譜儀已經(jīng)進(jìn)行了飛速的發(fā)展，如今的波長色散X射線熒光光譜儀器已經(jīng)發(fā)展到了波譜、能譜和微區(qū)掃描三者相結(jié)合的大型儀器，具備了更優(yōu)異的檢測性能和新增了掃描性能，并且隨著國

http://www.xzm2008.com/Article/lxbp_1.html

一分鐘掌握波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的原理結(jié)構(gòu)

多數(shù)人到現(xiàn)在還不清楚如何的區(qū)分波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區(qū)別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡單的介紹兩者之間的原理結(jié)構(gòu)，一分鐘快速掌握其中的奧秘。項(xiàng)目波長色散型能量色散型原理X熒光經(jīng)晶體分光，在不同行射角測量不同元素的特征線X熒光直接進(jìn)入檢測器，經(jīng)電子學(xué)系統(tǒng)處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜結(jié)構(gòu)為滿足全波段需要，配置多塊晶體，根據(jù)單道掃描和多道同時(shí)測定的需要，設(shè)置掃描機(jī)構(gòu)和若干固定通道無掃描機(jī)構(gòu)，只用一個(gè)檢測器和多道脈沖分析器，結(jié)構(gòu)簡單得多，無轉(zhuǎn)動(dòng)件，可靠性高X-光管高功

http://www.xzm2008.com/Article/yfzzwbcssx_1.html

波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品的區(qū)別

日本理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品各有獨(dú)自的優(yōu)勢，針對不同類的樣品檢測各有著長處之處，波長色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數(shù)用去牌號的快速檢測和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區(qū)別有哪些。

http://www.xzm2008.com/Article/bcssxxsxyg_1.html

日本理學(xué)波長色散型熒光光譜儀四大優(yōu)勢特點(diǎn)

日本理學(xué)波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個(gè)精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。

http://www.xzm2008.com/Article/rblxbcssxy_1.html

ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀探測器故障問題

ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀在使用過程上假如出現(xiàn)了PC探測器的PHA調(diào)節(jié)不能正常進(jìn)行怎么處理，廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司工程師教你一招，自己也可以進(jìn)行故障排除。故障現(xiàn)象：進(jìn)行PHA日常調(diào)節(jié)時(shí)，PC探測器微分曲線譜峰太低，嚴(yán)重變形，無法計(jì)算分辨率、“錯(cuò)誤內(nèi)容”提示“因?yàn)槊}高微分曲線的譜峰太低，所以不能進(jìn)行PHA調(diào)節(jié)”，“維護(hù)信息”顯示：“可能使用了錯(cuò)誤的PHA調(diào)節(jié)樣品，或者PHA調(diào)節(jié)的條件設(shè)置錯(cuò)誤”。

http://www.xzm2008.com/Article/zsxprimusb1_1.html

ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀中X光管故障解決問題

ZSX Primus Ⅱ 波長色散型X射線熒光光譜儀在檢測過程中由于不正確的使用或者沒有定期的進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)，容易造成機(jī)器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波長色散型X射線熒光光譜儀在分析中出現(xiàn)X光管故障的現(xiàn)象、產(chǎn)生的原因與最終解決的二種方法。第一故障現(xiàn)象：正常使用過程中，X光管忽然關(guān)閉。“錯(cuò)誤內(nèi)容”提示“X射線發(fā)生器發(fā)生異常”，“維護(hù)信息”顯示：“探測到X射線發(fā)生器有異常情況”。原因分析：X射線發(fā)生器本

http://www.xzm2008.com/Article/zsxprimus_1_1.html

ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀解決初始化無法進(jìn)行兩種方法

進(jìn)口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學(xué)推出的波長熒光光譜儀，性能先進(jìn)，操作方便，已 廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、鋼鐵、冶煉、醫(yī)藥等多領(lǐng)域。但在實(shí)際使用過程中有時(shí)會(huì)出現(xiàn)這樣那樣的故障，影響正 常測試工作的及時(shí)性和測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，文章針對ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進(jìn)行的兩個(gè)常見的故障現(xiàn)象進(jìn)行介紹，介紹故障出現(xiàn)的問題、原因分析及解決方法，希望對大家有所幫助。初始化無法進(jìn)行故障一故障現(xiàn)象：安裝新光管后主機(jī)與計(jì)算機(jī)不能連接，也沒有錯(cuò)誤信息提示。原因分析：錯(cuò)誤現(xiàn)象表明計(jì)算機(jī)系統(tǒng)探

http://www.xzm2008.com/Article/zsxprimusb_1.html

Supermini200 波長色散型臺式X射線熒光光譜儀檢測范圍

理學(xué)多年的積累研制的Supermini200 小型波長色散型儀器， 由高性能的硬件和最新軟件的完美結(jié)合，使得臺式機(jī)具有高精度、高穩(wěn)定的機(jī)能。Supermini200 波長色散型臺式X射線熒光光譜儀檢測性能非常的高，同一個(gè)畫面上的分析、測量、結(jié)果確認(rèn)操作簡單。Supermini200還配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能夠進(jìn)行高靈敏度的分析。Supermini200波長色散型X射線熒光光譜儀能快速解決各行業(yè)元素分析檢測問題，大大提高工作效率。下面簡單介紹其中部分分析應(yīng)用：部分應(yīng)用1、含有稀土類重元素等氧化物的定性分

http://www.xzm2008.com/Article/supermini2_1.html

波長色散型XRF-ZSX Primus系列X射線熒光光譜儀應(yīng)用

隨著用戶的需要也變得先進(jìn)和多樣化，理學(xué)集團(tuán)長年以來的技術(shù)研發(fā)、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿足用戶不斷改變的需求，理學(xué)集團(tuán)研發(fā)了先進(jìn)的XRF-ZSX Primus系列在各大行業(yè)中被廣泛的應(yīng)用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長色散型X射線熒光光譜儀在技術(shù)上更加的先進(jìn)，下面為大家簡單介紹波長色散型X射線熒光光譜儀在部分領(lǐng)域中的應(yīng)用。部分應(yīng)用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C

http://www.xzm2008.com/Article/bcssxxrfzs_1.html