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儀器:135-0001-7008
標(biāo)樣:191-9553-7296
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日本理學(xué)ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀，該儀器為上照式端窗型單道掃描儀，配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體，性能優(yōu)越，高精密度以及低檢出限，可測(cè)試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。
波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，適用于測(cè)定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型。波長(zhǎng)色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分
多數(shù)操作人員對(duì)日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒(méi)有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀對(duì)項(xiàng)目檢定方法操作實(shí)例，方便廣大用戶進(jìn)行學(xué)習(xí)，本方法來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)供參考用，不做商業(yè)用。檢定項(xiàng)目操作實(shí)例以日本理學(xué)X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術(shù)指標(biāo)，進(jìn)行分析測(cè)試。1、精密度測(cè)試精密度以12次連續(xù)重復(fù)測(cè)量的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示。每次測(cè)量都必須改變機(jī)械設(shè)置條件，包括晶體、計(jì)數(shù)器、準(zhǔn)直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺(tái)位置等。上式中：s——n次測(cè)量的標(biāo)
根據(jù)JJG810-1993中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程《波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀》，對(duì)儀器進(jìn)行檢定/校準(zhǔn)，在確保各項(xiàng)指標(biāo)合格的前提下，儀器方可投入使用。本文對(duì)檢定中涉及的指標(biāo)進(jìn)行具體實(shí)驗(yàn)分析統(tǒng)計(jì)，給出詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。并對(duì)檢定的項(xiàng)目進(jìn)行了探討，為下一步檢定規(guī)程的修訂提供了建議。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射線熒光光譜儀已經(jīng)進(jìn)行了飛速的發(fā)展，如今的波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀器已經(jīng)發(fā)展到了波譜、能譜和微區(qū)掃描三者相結(jié)合的大型儀器，具備了更優(yōu)異的檢測(cè)性能和新增了掃描性能，并且隨著國(guó)
X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法，是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）,從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩種，適用于測(cè)定鈹 (Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以
來(lái)源：分析測(cè)試百科網(wǎng)我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來(lái)看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來(lái)的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過(guò)程中，從20世紀(jì)80年代起，一些機(jī)械部件為電子線路所取代，電子線路又進(jìn)而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無(wú)齒輪莫爾條紋測(cè)角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的測(cè)角儀，2θ掃描精度也由齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的±0.001&d
能量色散X射線熒光光譜儀由X射線光管、樣品室、準(zhǔn)直器、探測(cè)器及技術(shù)電路和計(jì)算機(jī)組成。此外，亦可在樣品前加一單色器，達(dá)到降低背景的目的，以改善色散X射線熒光光譜儀的檢出限。它與波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的顯著不同是分光晶體，而是直接用能量探測(cè)器來(lái)分辨特征譜線，達(dá)到定性和定量分析的目的。如圖：能量色散X射線熒光光譜儀 當(dāng)樣品中待測(cè)元素的特征射線進(jìn)入能量探測(cè)器時(shí)，既會(huì)產(chǎn)生電子孔穴對(duì)，其數(shù)量正比于入射光子的能量，經(jīng)過(guò)前置放大器，產(chǎn)生典雅脈沖。由于前方產(chǎn)生的信號(hào)幅度小，信噪比低，需要慢脈沖成型放大器將其放大，并采用濾
ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。相對(duì)應(yīng)的X射線熒光光譜儀有：手持式ROHS分析儀斯派克臺(tái)式小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀
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X射線熒光光譜儀用于塑料及電子材料中鉛、鎘、（汞）等元素分析
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