德國(guó)斯派克光譜儀提供RoHS2.0檢測(cè)方案

ROHS2.0檢測(cè)，德國(guó)斯派克光譜儀為你提供解決以下問(wèn)題？1.    拆分樣品需要花費(fèi)大量時(shí)間，如PCBA板，連接器等，有覺(jué)得麻煩或者效率不高嗎？2.    碰到極細(xì)小樣品，如貼片元器件，管腳，線材，無(wú)法精確定位測(cè)試，有時(shí)甚至由于樣品太小無(wú)法測(cè)試？3.    現(xiàn)有的XRF測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，一般需要5-15分鐘測(cè)一個(gè)樣品點(diǎn), 而您的測(cè)試量又巨大，有希望可以做到更快更好嗎？4.    測(cè)試結(jié)果有出現(xiàn)過(guò)誤判的情況嗎？這是很苦惱的情況，如果有誤判，

http://www.xzm2008.com/Article/dgspkgpytg_1.html

ICP/XRF光譜儀在潤(rùn)滑油及添加劑檢測(cè)中的應(yīng)用

等離子體發(fā)射光譜儀和X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于潤(rùn)滑油添加劑的元素檢測(cè)。例如：鋁、銅、鎳或鐵等磨損金屬可指示油潤(rùn)部件的磨損，并可在磨損達(dá)到臨界水平時(shí)發(fā)出信號(hào)。其他元素如硅、鎂或鉀的存在則會(huì)顯示出潤(rùn)滑油受到的污染程度。通過(guò)測(cè)量鉬、鈣、鋇、磷和鋅等元素可以精確監(jiān)測(cè)添加劑的有效含量。德國(guó)斯派克分析儀公司的等離子體發(fā)射光譜儀用于檢測(cè)油品中的添加劑、磨損金屬成分。-    分析方法符合ASTM D4951，ASTM D5185及GB/T17476-    添加劑元素，諸如鉬、鈣、鋇、磷和

http://www.xzm2008.com/Article/icpxrfgpyz_1.html

光譜XRF在藥物研發(fā)中有什么應(yīng)用？

金屬催化劑通常用于原料藥的合成中,研發(fā)者需要監(jiān)測(cè)各種原料和合成工藝中金屬催化劑的殘留情況,從而實(shí)施有效的控制策略。通常使用靈敏度、精密度高和選擇性好的電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES或ICP- OES)或ICP-MS,對(duì)藥物中的元素雜質(zhì)進(jìn)行分析。

http://www.xzm2008.com/Article/gpxrfzywyf_1.html

有色行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)將出臺(tái)，波長(zhǎng)色散XRF光譜儀是時(shí)候解下了

近日，在全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)重金屬標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)審定、任務(wù)落實(shí)會(huì)上，西南銅業(yè)申報(bào)立項(xiàng)成功的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(銅熔煉渣中銅、鐵、硫、二氧化硅、砷、鉛、鋅、銻、鉍、鎳、氧化鈣、氧化鎂、三氧化二鋁的測(cè)定)》，確定其為起草單位，及參與該項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證的一驗(yàn)、二驗(yàn)企業(yè)，并明確了標(biāo)準(zhǔn)編制的項(xiàng)目進(jìn)度計(jì)劃。

http://www.xzm2008.com/Article/ysxybzjctb_1.html

環(huán)境分析應(yīng)用事例-排水分析

環(huán)境分析應(yīng)用事例排水分析（代替標(biāo)準(zhǔn)的篩選分析）1.除了汞之外，理學(xué)大型WDXRF都滿(mǎn)足GB5080要求的規(guī)定值。2.一般下照式對(duì)液體樣品合適，但是對(duì)含有固體浮游物的樣品，上照式波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀很合適。3.理學(xué)儀器對(duì)半定量分析有很多種類(lèi)校正功能，理學(xué)ZSX軟件的優(yōu)點(diǎn)。4.在這兒介紹了定性半定量分析，如果能準(zhǔn)備標(biāo)樣，建立工作曲線進(jìn)行定量分析更好。必須品：1.樣品處理工具配件（上照式液體容器等）2.SQX軟件3.氦氣置換機(jī)構(gòu)推薦：SQX散射線FP法

http://www.xzm2008.com/Article/hjfxyyslps_1.html

大氣粉塵濾片分析事例（中國(guó)環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)）

大氣粉塵濾片分析事例（中國(guó)環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)）日本理學(xué)正是大氣顆粒物元素分析的“老字號(hào)”，90年代已經(jīng)跟中日友好環(huán)境保護(hù)中心合作建立大氣粉塵濾片的分析方法。使用XRF分析大氣粉塵非常的容易。濾片基本上原樣分析，使用上照式波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀時(shí)不用擔(dān)心粉塵落下，濾片一般對(duì)X射線沒(méi)有那么耐性，所以調(diào)整分析條件更好1、把功率下降一點(diǎn)2、使用濾光片（Be,Al,Ni）必備工具：樣品處理工具配件（鋁制或者鈦制中空樣品杯，樣品支持板等等）推薦：對(duì)III型追加Ge晶體補(bǔ)充：大氣粉塵定量分析

http://www.xzm2008.com/Article/dqfclpfxsl_1.html

環(huán)境分析應(yīng)用事例 石油分析（質(zhì)量控制）

環(huán)境分析應(yīng)用事例石油分析（質(zhì)量控制）國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) 車(chē)用汽油一、日本（揮發(fā)油等的質(zhì)量確保法）1、  Pb≦1ppm(沒(méi)有WDXRF方法標(biāo)準(zhǔn))2、  S≦10ppm(JIS K 2541-7)二、中國(guó)（中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) GB17930-2016）1、  GB IV50 mg/kg, GB V-VIB≦10ppm(GB/T11140-2007)2、  金屬（沒(méi)有WDXRF方法標(biāo)準(zhǔn)）GB17930-2016密度-濃度換算0.72KG

http://www.xzm2008.com/Article/hjfxyyslsy_1.html

固體廢棄物分析方法（篩選分析）

固體廢棄物分析（篩選分析）1、在污水殘?jiān)脑瓨臃治?，?duì)過(guò)半數(shù)元素通過(guò)SQX分析的固定角分析滿(mǎn)足HJ781-2016的LLD規(guī)定。雖然HJ781-2016是ICP-OES的標(biāo)準(zhǔn)，但是WDXRF也能作為篩選分析法使用。2、為了防止從樣品揮發(fā)成分的污染，使用樣品薄膜覆蓋殘?jiān)鼧悠贰?、如果可以的話(huà)，推薦灰化樣品。4、樣品設(shè)置時(shí)，上照式儀器很方便。推薦儀器：理學(xué)ZSX Primus III=/IV波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀必須品：樣品處理工具配件（MicroCarry,中空樣品杯，樣品薄膜，微量粉末容器），SQX軟件

http://www.xzm2008.com/Article/gtfqwfxffs_1.html

關(guān)于水泥窯協(xié)同處置固體廢物的標(biāo)準(zhǔn)

關(guān)于水泥窯協(xié)同處置固體廢物的標(biāo)準(zhǔn)《GB30485-2013水泥窯協(xié)同處置的固體廢物污染控制標(biāo)準(zhǔn)》《固體廢物 無(wú)機(jī)元素的測(cè)定波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法征求意見(jiàn)稿》《HJ-662-2013水泥窯協(xié)同處置固廢廢物環(huán)境保護(hù)技術(shù)規(guī)范》一：GB30485參考HJ662.如果HJ662-2013要求的“”最大允許投加量就是各個(gè)原料（常規(guī)原料。常規(guī)燃料，廢物）的含量值，使用WDXRF控制污染不那么困難。（從分析上的觀點(diǎn)，這個(gè)限制值比較高。）二：因?yàn)镠J662不規(guī)定分析方法，所以應(yīng)該可以采用無(wú)標(biāo)的半定量分析。三

http://www.xzm2008.com/Article/gysnyxtczg_1.html

德國(guó)斯派克手持式光譜儀xSORT在不銹鋼回收行業(yè)應(yīng)用

使用德國(guó)斯派克手持式光譜儀（XRF）可把不銹鋼廢料中的主要成分和雜質(zhì)元素檢測(cè)出來(lái)，不銹鋼的價(jià)值主要來(lái)自于鎳的含量高低，也存在鉬含量的成分更有特殊價(jià)值。不銹鋼廢鋼殘?jiān)捎糜诓讳P鋼再生產(chǎn)，還有鉻鐵廢料、鎳鐵廢料、碳鋼和低合金鋼廢鋼料、錳鐵廢料和鎳合金廢料等。在冶金過(guò)程不能減少的元素有P, V, Cu, W, Nb, Co, Sn, Pb和Ta。

http://www.xzm2008.com/Article/dgspkscsgp9_1_1.html

精密儀器之X射線熒光光譜儀

簡(jiǎn)介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jiǎn)稱(chēng)：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫(huà)和壁畫(huà)。使用型態(tài)：XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候，

http://www.xzm2008.com/Article/jmyqzxsxyg_1.html

什么是波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀？

波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱(chēng)XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，適用于測(cè)定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱(chēng)XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型。波長(zhǎng)色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分

http://www.xzm2008.com/Article/smsbcssxsx1_1.html

德國(guó)斯派克XRF助力當(dāng)代考古科學(xué)發(fā)展

      考古學(xué)是依據(jù)古代物質(zhì)遺留以了解古代人類(lèi)行為與當(dāng)時(shí)社會(huì)文化的學(xué)問(wèn)，分析研究古代遺跡，獲取其豐富的潛在信息，探索古代人類(lèi)社會(huì)歷史以及人類(lèi)與自然的相互關(guān)系。到 20 世紀(jì)中期出現(xiàn)了一個(gè)新的考古學(xué)派, 形成了一門(mén)新的學(xué)科, 那就是“科技考古學(xué)”。科技考古學(xué)就是利用自然科學(xué)和考古學(xué)的理論、方法和手段, 分析研究古代實(shí)物遺存, 獲取豐富的“潛”信息, 以探索人與自然的關(guān)系以及古代人類(lèi)社會(huì)歷史的科學(xué)。從考古學(xué)的發(fā)展上看出，自然科學(xué)的學(xué)科在理

http://www.xzm2008.com/Article/dgspkxrfzl_1.html

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀四大優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個(gè)精密的測(cè)角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專(zhuān)門(mén)的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。

http://www.xzm2008.com/Article/rblxbcssxy_1.html

波長(zhǎng)色散型XRF-ZSX Primus系列X射線熒光光譜儀應(yīng)用

隨著用戶(hù)的需要也變得先進(jìn)和多樣化，理學(xué)集團(tuán)長(zhǎng)年以來(lái)的技術(shù)研發(fā)、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿(mǎn)足用戶(hù)不斷改變的需求，理學(xué)集團(tuán)研發(fā)了先進(jìn)的XRF-ZSX Primus系列在各大行業(yè)中被廣泛的應(yīng)用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在技術(shù)上更加的先進(jìn)，下面為大家簡(jiǎn)單介紹波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在部分領(lǐng)域中的應(yīng)用。部分應(yīng)用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C

http://www.xzm2008.com/Article/bcssxxrfzs_1.html

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的新進(jìn)展

X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法，是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）,從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱(chēng)XRF光譜儀，有波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩種，適用于測(cè)定鈹 (Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以

http://www.xzm2008.com/Article/bcssxsxyggd_1.html

硫化礦樣品的X射線熒光光譜分析

X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進(jìn)行的元素分析方法,采用探測(cè)器檢測(cè)特征X射線熒光的能量和強(qiáng)度,從而實(shí)現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡(jiǎn)單、重現(xiàn)性好、準(zhǔn)確度高、非破壞性和對(duì)環(huán)境無(wú)污染等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于多領(lǐng)域的樣品分析。硫化銅礦石作為國(guó)家戰(zhàn)略礦石之一,對(duì)其快速準(zhǔn)確分析在開(kāi)發(fā)利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長(zhǎng),操作繁瑣,不適合日?？焖俜治龅囊蟆ｉ_(kāi)發(fā)了X射線熒光光譜法快速測(cè)定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實(shí)驗(yàn)采用玻璃熔融法制備硫化銅

http://www.xzm2008.com/Article/lhkypdxsxy_1.html

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

來(lái)源：分析測(cè)試百科網(wǎng)我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來(lái)看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來(lái)的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過(guò)程中，從20世紀(jì)80年代起，一些機(jī)械部件為電子線路所取代，電子線路又進(jìn)而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無(wú)齒輪莫爾條紋測(cè)角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的測(cè)角儀，2θ掃描精度也由齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的±0.001&d

http://www.xzm2008.com/Article/bcssxsxygg_1.html

寶石鑒定的神器——XRF

X-Ray Fluorescence說(shuō)到珠寶鑒定師，你一定認(rèn)為是一群擁有火眼金睛，一眼辨真假的孫悟空。如果你要這樣夸小吉，我也是不反駁噠o(*￣▽?zhuān)?)ブ在科技快速發(fā)展的21世紀(jì)，珠寶鑒定師的日常除了肉眼觀察和常規(guī)寶石學(xué)特征測(cè)試，還會(huì)用到現(xiàn)代儀器對(duì)寶石結(jié)構(gòu)和成分進(jìn)行分析，例如FTIR、XRF、EPMA等等。今天，大家一起來(lái)了解在元素測(cè)試方面十分厲害的XRF~XRF儀器簡(jiǎn)介XRF全稱(chēng)為X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)，是一種元素分析儀器，理論上可以測(cè)量化學(xué)元素周期表中11號(hào)元素Na到92號(hào)元

http://www.xzm2008.com/Article/bsjddsqxrf_1.html

如何評(píng)估手持式X射線熒光光譜儀的好與壞

目前，分析儀器市場(chǎng)中的手持式X射線熒光光譜儀品牌琳瑯滿(mǎn)目，同質(zhì)化程度也相對(duì)較高，這導(dǎo)致在選購(gòu)手持式X射線熒光光譜儀過(guò)程中出現(xiàn)很多困難。評(píng)估手持式X射線熒光光譜儀的好與壞，主要從以下幾點(diǎn)進(jìn)行評(píng)估：第一：儀器的安全性XRF為X射線產(chǎn)品，X射線具備累計(jì)性及身體不可感知行，故其對(duì)于人員的危害性更加隱蔽、更加危險(xiǎn)。優(yōu)良的XRF必須首先確保零服務(wù)的基本條件實(shí)現(xiàn)。用戶(hù)可以詳細(xì)了解儀器廠家的防護(hù)原理，防護(hù)措施、索要相關(guān)的檢驗(yàn)證書(shū)。有條件的還可以使用X射線探測(cè)器進(jìn)行實(shí)際校驗(yàn)。第二:儀器穩(wěn)定性XRF屬于對(duì)比型分析儀器，其數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性及

http://www.xzm2008.com/Article/rhpgscsxsx_1.html