日立新一代超高分辨鎢燈絲掃描電鏡 掃描電子顯微鏡 Hitachi SU3500

日立多功能分析型可變壓掃描電鏡 Hitachi S-3700N

日立高分辨場發(fā)射掃描電鏡 Hitachi SU8010

日立新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡 Hitachi SU9000

日立臺式電子顯微鏡 電鏡 TM4000/TM4000Plus

日立TM4000掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。

日立鎢燈絲掃描電鏡FlexSEM 1000

FlexSEM1000是日立高新公司新推出的一款機型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設計，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭，具有卓越的低真空成像能量，并且采用新的SEM MAP高精度導航系統(tǒng)及新全的自動化功能，使性能更加優(yōu)越，使用更加簡便。

2020端午放假通知 — 儀德科學

廣州儀德精密科學儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來堅持服務于國內(nèi)實驗分析領域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術企業(yè)。  產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮

掃描電子顯微鏡是什么？

掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。

儀德公司祝大家端午節(jié)快樂！

廣州市儀德科學儀器有限公司創(chuàng)立于2005年，十三年來堅持服務于國內(nèi)實驗分析領域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術企業(yè)。  產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如直讀光譜儀、X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、金相顯微鏡等。  在儀德人的深耕細作下，客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、

使用“二合一法”解決方案進行清潔度分析

在汽車和運輸、微電子、制造和醫(yī)療器械等行業(yè)中，產(chǎn)品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。徠卡 DM6 M LIBS 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學顯微術 (目視分析) 和激光誘導擊穿光譜 (LIBS) (化學分析) 相結(jié)合。與掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜(EDS) 等其他方法進行比較，在高效清潔度分析中占據(jù)著優(yōu)勢。查找和消除污染源更輕松 對于技術清潔度，最終目標是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時間和精力識別污染源，

SEM掃描電鏡知識點掃盲

1. 光學顯微鏡以可見光為介質(zhì)，電子顯微鏡以電子束為介質(zhì)，由于電子束波長遠較可見光小，故電子顯微鏡分辨率遠比光學顯微鏡高。光學顯微鏡放大倍率高只有約1500倍，掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上?！　?. 根據(jù)de Broglie波動理論，電子的波長僅與加速電壓有關：　　λe=h / mv= h / (2qmV)1/2=12.2 / (V)1/2 (?)　　在 10 KV 的加速電壓之下，電子的波長僅為0.12?，遠低于可見光的4000 - 7000?，所以電子顯微鏡分辨率自然比光學顯微鏡優(yōu)越許多，但是掃描式電

臺式掃描電鏡在金屬材料領域的應用

臺式電鏡的主要價值體現(xiàn)在它的便捷性，以及可獲取比光學顯微鏡放大倍數(shù)更高的圖像。近期，由于臺式電鏡已成為高通量篩選方法的一個重要組成部分，對其性能也提出了更高的要求。新型TM3030Plus配置了專門的高靈敏度低真空二次電子探測器可以觀察樣品表面的細節(jié)信息。在低真空模式下，TM3030Plus無需樣品處理就可獲取二次電子圖像和反射電子圖像。因而，TM3030Plus提高了工作效率并可獲取更多的樣品信息，滿足了如今日益增長的復雜的顯微應用。金屬： 斷口觀測，表面觀測筆芯：即使筆芯頭上的墨水也可用SE模式觀測，

利用日立場發(fā)射掃描電鏡SU9000觀察陽極氧化鋁

陽極氧化鋁由于其良好的耐腐蝕和耐磨性被廣泛應用在家用電器以及工業(yè)生產(chǎn)中。表面多孔膜的功能化將成為研制光電元件的又一新途徑。而且由于多孔膜的孔徑極為細小，更可進一步開發(fā)出超微細發(fā)光元件。