飛時(shí)曼原子力顯微鏡 FM-Nanoview 1000 AFM介紹：

主要功能特點(diǎn)

1、掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，抗干擾能力強(qiáng)；

2、精密激光及探針定位裝置，更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡單方便；

3、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；

4、馬達(dá)自動(dòng)脈沖控制驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；

5、高精度樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；

6、帶光學(xué)定位的CCD觀測系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域；

7、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；

8、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用；

9、彈簧懸掛式防震方式，簡單實(shí)用，抗干擾能力強(qiáng)。

主要技術(shù)指標(biāo)

1、工作模式：接觸模式、輕敲模式，可選配摩擦力、相位、磁力或靜電力

2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3、掃描范圍：XY向20um，Z向2um

4、掃描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm

5、樣品移動(dòng)范圍：±6.5mm

6、馬達(dá)趨近脈沖寬度：10±2ms

7、圖像采樣點(diǎn)：256×256，512×512

8、光學(xué)放大倍數(shù)4X，光學(xué)分辨率2.5um

9、掃描速率0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360°

10、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

11、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣

12、反饋方式：DSP數(shù)字反饋

13、反饋采樣速率：64.0KHz

14、計(jì)算機(jī)接口：USB2.0

15、運(yùn)行環(huán)境：運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)

友好的軟件界面和操作功能

1. 多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；

2. 多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；

3. 可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；

4. 可任意選擇樣品起始掃描角度；

5. 激光光斑檢測系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；

6. 針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能；

7. 可任意定義掃描圖像的色板功能；

8. 支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；

9. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；

FSM-AFM操作軟件主要功能特點(diǎn)

1、可實(shí)時(shí)觀測樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像；

2、具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式；

3、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512；

4、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；

5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；

6、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；

7、可任意選擇樣品起始掃描角度；

8、激光光斑檢測系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；

9、針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能；

10、可任意定義掃描圖像的色板功能；

11、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；

12、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；

13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。

原子力顯微鏡廣泛的應(yīng)用